Lez/Lab | data |
argomento |
file |
n. |
note |
correzioni |
Lez |
07.03.2011 |
Introduzione |
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27 |
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Lez |
21.03.2011 |
Trasduttori |
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72 |
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Lez |
28.03.2011 |
Misure su dispositivi a semiconduttore |
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27 |
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(dopo 3),
(sost. 18),
(sost. 20 e 21),
(dopo 22)
(sost. 24 e 25),
(sost. 27)
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Lez |
05.04.2011 |
Test su dispositivi a semiconduttore |
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30 |
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Versione corretta; comprende le correzioni indicate
alla riga precedente. Pagine rinumerate.
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Lez |
04.04.2011 |
Oscilloscopio |
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52 |
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Lez |
11.04.2011 |
   " |
" |
" |
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Lez |
18.04.2011 |
Sintesi di frequenza |
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31 |
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Lez |
18.04.2011 |
Analizzatori di stati logici |
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16 |
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Lez |
16.05.2011 |
Misura di impedenze |
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37 |
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Lez |
16.05.2011 |
Generatori di pattern digitali |
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7 |
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Lez |
23.05.2011 |
Considerazioni finali |
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17 |
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Lez |
23.05.2011 |
Sistemi di acquisizione dati |
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27 |
(fotocopie in Aula) |
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